oppervlakruwheid

Oppervlakruwheid is de mate van oneffenheden op een oppervlak op microniveau. Het beschrijft hoe glad of ruw een oppervlak aanvoelt en wordt bepaald door de afwijkingen van het oppervlakteprofiel ten opzichte van een referentielijn over een bepaalde bemonsteringslengte. Ruwe oppervlakken kennen grotere pieken en dalen dan gladde oppervlakken, wat invloed heeft op functies zoals wrijving, afdichting en slijtage.

Verschillende parameters worden gebruikt om oppervlakruwheid te karakteriseren. De veelgebruikte karakteristiek Ra is de arithmetische gemiddelde afwijking van het profiel ten opzichte van de referentielijn over een ingestelde lengte. Andere belangrijke parameters zijn Rz, het gemiddelde hoogteverschil tussen pieken en dalen over meerdere segmenten, Rt, de totale hoogte van het profiel, en Rp/Rv die bepaalde rand- en dalpunten beschrijven. De waarden worden meestal uitgedrukt in micrometers (µm). De meting kan plaatsvinden met een contactprofilometer (stilus) of met niet-contactmethoden zoals optische profilometrie of interferometrie. Internationale normen zoals ISO 4287 (definities en symbolen) en ISO 4288 (acceptatielimieten) geven richtlijnen voor meting en rapportage.

Oppervlakruwheid wordt beïnvloed door het productieproces (frezen, draaien, slijpen, polijsten), gereedschapsdop, snijparameters, materiaalniveau en vervolgprocessen. Een lagere ruwheid kan leiden tot betere afdichting, minder wrijving en minder slijtage, maar vereist doorgaans zwaardere bewerking of speciale afwerking. Te hoge ruwheid kan weerstand, lekkage of verminderde oppervlaktekwaliteit veroorzaken. In ontwerp en kwaliteitscontrole wordt ruwheid vaak gebruikt om productkwaliteit en functionele prestaties te beoordelen.