Reflectiewaarden

Reflectiewaarden zijn numerieke maatstaven voor de mate waarin een oppervlak invallend licht reflecteert. Ze zijn afhankelijk van golflengte, meetconfiguratie en oppervlaktestructuur en komen voor in uiteenlopende vakgebieden zoals optica, fotografie, coatings en remote sensing. In veel contexten worden reflectiewaarden gezien als een manier om de reflectie-eigenschappen van materialen te karakteriseren en te enten op toepassingen zoals kleurbeheer en beeldvorming.

In de praktijk worden reflectiewaarden doorgaans gemeten met een spectrofotometer of reflectometer. Metingen kunnen per golflengte of over een bandbreedte worden gerapporteerd. Reflectiewaarden worden vaak uitgedrukt als een ratio tussen 0 en 1 of als percentage (0–100%). Voor nauwkeurige vergelijkingen worden meetresultaten geaard met referentiestandaarden zoals witte referenties (bijv. Spectralon) of zwarte referenties. De reflectiewaarde hangt af van de meetgeometrie, omdat oppervlakken zowel diffuus als speculair reflecteren.

De basisdefinitie in radiometrie is ρ(λ) = E_r(λ)/E_i(λ), oftewel de verhouding van gereflecteerd naar invallend stralingsvermogen bij een bepaalde golflengte. In de praktijk kan ρ(λ) variëren met hoek van inval, polarisatie en textuur van het materiaal. Diffuse reflectie levert doorgaans stabielere waarden op dan speculaire reflectie, waardoor meetresultaten beter vergelijkbaar zijn over meerdere toepassingen.

Toepassingen omvatten materiaal- en oppervlaktekarakterisering, kleurbeheer in beeldweergave en drukwerk, kwaliteitscontrole in coatings, ontwerp van zonnepanelen en analyse van land- en oppervlaktedata in remote sensing. In computer vision worden reflectiewaarden gebruikt voor belichtingscorrectie en witbalans, vaak in combinatie met modellering van BRDF.

Zie ook: reflectantie, albedo, BRDF.