oppervlakteparameters

Oppervlakteparameters zijn kwantitatieve grootheden die de eigenschappen van een oppervlak beschrijven die relevant zijn voor modellering van interacties met vloeistoffen, straling en deeltjes. Ze vangen zowel geometrische kenmerken zoals topografische ruwheid en hoekverdeling als chemische en optische eigenschappen die de interacties sturen. In materiaal- en oppervlaktescience worden deze parameters gebruikt om processen zoals wrijving, hechting en natteigenschappen te voorspellen.

Veelvoorkomende geometrische oppervlakteparameters zijn de gemiddelde ruwheid Ra, de wortelgemiddelde kwadratische ruwheid Rq en de maximale piek-tot-dalhoogte Rz, evenals curvatuurkenmerken zoals de gemiddelde (H) en Gaussische (K) curvatuur. In optica en remote sensing spelen emissiviteit, reflectiviteit en BRDF-parameters een cruciale rol; deze beschrijven hoe een oppervlak straling weerkaatst in verschillende richtingen. In radiatieve transportmodellen worden vaak ook de microfacets-ruwheidsverdeling en hoekafhankelijke reflectie gebruikt.

Oppervlakteparameters worden gemeten met technieken zoals profilometrie en AFM voor topografie, laserscanning of confocale microscopie voor ruwe topografie; ellipsometrie en spectroscopische methoden bepalen optische constants zoals de index van refractie en absorptie. In modellering dienen oppervlakteparameters als invoer die het contact, de wrijving en het transport van warmte en massa koppelen aan de microstructuur van het oppervlak.

Zie ook: BRDF, radiatieve eigenschappen, wrijving, fractale dimensie, profilometrie.