oppervlaktelagensuch

Oppervlaktelagensuch is een concept in de materiaalkunde en oppervlaktetechnologie dat verwijst naar het detecteren, identificeren en karakteriseren van dunne oppervlaktelaagjes op substraten. Doel is om de aanwezigheid, samenstelling, dikte en morfologie van deze lagen vast te stellen en te begrijpen hoe ze de eigenschappen van het onderliggende materiaal beïnvloeden.

Toepassingen van oppervlaktelagensuch komen voor in uiteenlopende velden. In de industrie wordt het gebruikt voor het ontwikkelen van beschermende coatings en passivatielagen, corrosiebescherming en optische coatings. In de halfgeleiderindustrie helpt het bij het controleren van dunne films en interfaces. In de conservation science kan het worden toegepast om historische voorwerpen te analyseren en coatings of verflagen te identificeren zonder schade aan te richten.

Veelgebruikte methoden en benaderingen omvatten niet-destructieve en destructieve technieken. Niet-destructieve technieken zijn onder meer spectroscopische ellipsometrie, röntgendiffractie, röntgendiffractie met bijbehorende straling, X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Auger Electron Spectroscopy (AES) en Raman- of FTIR-spectroscopie. Voor ruimtelijke resolutie worden vaak beeldvormende technieken gebruikt zoals Atomic Force Microscopy (AFM) en Scanning Electron Microscopy (SEM). Diepteprofilering en composietiemeting kunnen ook worden bereikt met Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) of transmission electron microscopy (TEM) op dwarsdoorsnedes.

Interpretatie van de resultaten vereist modellering van optische of chemische data en rekening houden met factoren zoals oppervlaktiruwheid, interfaciale diffusie en omgevingscondities. Kwaliteitscontrole en standaardisatie blijven uitdagingen in oppervlaktelagensuch.