nanométrica

La nanométrica es la disciplina que estudia y aplica fenómenos y estructuras en la escala del nanómetro. Un nanómetro (nm) equivale a una milmillonésima de metro. En términos prácticos, la nanoescala se sitúa aproximadamente entre 1 y 100 nm; en algunas áreas se emplea un rango que llega a varios cientos de nanómetros.

La caracterización a esta escala se denomina metrología nanométrica. Requiere herramientas de alta resolución como la microscopía de fuerza atómica (AFM), la microscopía electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM), así como técnicas ópticas de alta resolución y perfilometría de superficies. Estas herramientas permiten medir dimensiones, formas, rugosidad y propiedades físicas de estructuras y materiales a nivel nanométrico, incluidas nanopartículas y capas delgadas.

Las aplicaciones abarcan la nanotecnología, la electrónica, la ciencia de materiales y la biomedicina. En electrónica, la miniaturización de componentes y el uso de nanomateriales han impulsado transistores y sensores más eficientes. En materiales, se diseñan nanocompuestos y superficies funcionalizadas. En biomedicina, la nanométrica facilita sistemas de administración de fármacos, diagnóstico y análisis biomédico; en catálisis y fotónica, las nanoestructuras mejoran la reactividad y la manipulación de la luz.

Historia y enfoque: el concepto nació con la promesa de manipular la materia a escalas extremadamente pequeñas, popularizada por la visión de Richard Feynman en 1959. Actualmente, la nanométrica se integra con la nanotecnología y la nanometrología para lograr control, reproducibilidad y trazabilidad en la investigación y la industria.

Entre los desafíos figuran la variabilidad de medición, la necesidad de estandarización y la trazabilidad de resultados en la nanoescala. Organismos internacionales, como ISO e IEC, desarrollan guías y normas para facilitar comparabilidad entre laboratorios y productos, mientras que institutos nacionales de metrología trabajan en la calibración y las referencias de nanómetros.