RMSRauheit

RMSRauheit, im Deutschen auch RMS-Rauheit genannt, ist eine Kennzahl der Oberflächenrauheit. Sie beschreibt die Wurzel des mittleren Quadrats der Abweichungen der Oberflächenhöhe von der mittleren Profillinie innerhalb einer Messlänge. In formeller Schreibweise: Rq = sqrt( (1/L) ∫_0^L [Z(x) - Zmean]^2 dx ). Bei diskreten Messungen: Rq = sqrt( (1/N) Σ_i (Z_i - Zmean)^2 ). Rq wird oft als Rq oder RMS-Rauheit bezeichnet und gehört zu den profilometrischen Rauheitsparametern nach ISO 4287.

Im Vergleich zu Ra, dem arithmetischen Mittel der Abweichungen, ist Rq empfindlicher gegenüber Spitzen und Vertiefungen, da das Quadrat der Abweichungen diese stärker gewichtet. Dadurch liefert Rq eine robusterere Einschätzung der Oberflächenstruktur in Bezug auf Belastung und Reibung.

Messung: Rq wird mit Tastprofilometern (Kontaktprofilometer) oder berührungslosen Methoden wie optischen Profilometern, konfokaler Mikroskopie oder Weißlichtinterferometrie bestimmt. Typischerweise erfolgt die Messung über eine definierte Messlänge (Gauge Length), gefiltert durch standardisierte Filter (z. B. Gauss- oder Welligkeitsfilter), um Spitzen der Welligkeit vom grundsätzlichen Profil zu trennen.

Anwendung: RMSRauheit ist ein wichtiger Parameter in Fertigung, Qualitätskontrolle, Tribologie und Oberflächenbehandlung. Sie beeinflusst Reibung, Verschleiß und Haftung. In Normen wird Rq zusammen mit weiteren Rauheitsparametern verwendet, um Oberflächenqualitäten zu spezifizieren.

Areale Oberflächenmessungen verwenden ähnliche Größen mit Sq (RMS-Höhenrauhigkeit über eine Fläche); Rq bezieht sich traditionell auf 2D-Profile, während 3D-Parameternamen in ISO 25178 definiert sind.