tarkkuusmetrologia

Tarkkuusmetrologia on metrologian osa-alue, joka keskittyy mittausten tarkkuuden, luotettavuuden ja mitattavuuden hallintaan. Sen tavoitteena on varmistaa mittausten jäljitettävyys kansainvälisiin SI-yksiköihin sekä mahdollistaa vertailtavuus eri laitteiden ja prosessien välillä.

Keskeisiä käsitteitä ovat tarkkuus (kuinka lähellä todellista arvoa mittausta on), toistettavuus ja trueness sekä systemaattiset virheet. Mittausten epävarmuus kuvaa, kuinka luotettava tulos on, ja se arvioidaan sekä dokumentoidaan epävarmuusarviona. Epätarkkuus voi johtua sekä satunnaisista vaihteluista että systemaattisista vääristymistä, ja epävarmuus muodostaa mittauksen luotettavuuden perustan.

Kalibrointi ja jäljitettävyys muodostavat tarkkuusmetrologian keskeiset toiminnot. Mittausvälineet kalibroidaan viitearvoihin, jotka ovat yhteydessä SI-yksiköihin. Kalibrointiketju etenee primääriviitearvoista sekundääriin ja työstandardeihin sekä lopulliseen mittausjärjestelmään, jolloin tulokset voivat olla vertailukelpoisia eri laboratorioissa ja maissa. Epävarmuusarvio seuraa usein ohjeistusta kuten Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM), ja siihen sisältyy sekä tilastollisten että ei-tilastollisten epävarmuuksien arviointi.

Sovelluksia ovat teollisuus, lääketiede, ympäristötutkimus ja ympäristönvalvonta sekä sääntely, jossa mittausluotettavuus on keskeinen vaade. Kansainvälisesti tarkkuusmetrologia ohjataan organisaatioissa kuten BIPM, CIPM ja ILAC sekä kansallisissa metrologiamuodoissa sekä ISO/IEC 17025 -sertifioinnissa.