overfladeprofilometri
Overfladeprofilometri refererer til en gruppe af metoder og instrumenter, der bruges til at måle og analysere overfladeruhed og overfladeprofiler. Disse teknikker er afgørende inden for mange ingeniørvidenskabelige og videnskabelige felter, hvor overfladekvalitet har direkte indflydelse på produktets ydeevne, holdbarhed og funktion. Overfladeprofilometri giver kvantitative data om overfladens geometriske karakteristika, herunder højdeforskelle, toppe og dale.
De mest almindelige metoder inkluderer kontaktmetoder, hvor en stylus eller et diamantskær føres hen over overfladen
Berøringsfri metoder, såsom optisk profilometri, bruger lys til at kortlægge overfladen. Teknikker som konfokal mikroskopi, interferometri
Data fra overfladeprofilometri analyseres typisk ved hjælp af forskellige parametre, der beskriver ruhed, som f.eks. Ra