parasittkapasitans

Parasittkapasitans, eller parasitiska kapacitans, är den oavsiktliga kapacitansen som uppstår mellan ledare eller mellan en ledare och en närliggande referensyta i ett elektriskt system. Den uppkommer främst genom geometri och dielektriska material i komponenter, kretskort, kablar och anslutningar. Vanliga källor är spår på ett kretskort som ligger nära varandra, ledare nära jordplan eller varandra, samt kapsel- eller förpackningsstrukturer i halvledarkomponenter och kabelmantlar.

Parasittkapacitansen påverkar funktion och prestanda genom att lagra energi i det elektriska fältet, vilket ändrar tidskonstanter i RC- och andra nätverk och kan ge oönskad koppling mellan kanaler. Den kan försämra signalintegriteten, skymma snabba övergångar och ge frekvensberoende förstärkning eller dämpning i högfrekventa applikationer. I digitala och RF-kretsar är effekterna ofta betydande och måste beaktas i designen.

Mätning och uppskattning görs vanligtvis med LCR-mätare eller nätverksanalysator. För enkla geometrier används en parallell-plate-modell C = ε_r ε_0 A/d, medan mer komplexa layouter analyseras med 3D-fältberäkningar i CAD-/ECAD-verktyg eller genom parasitutdrag i designverktyg.

Åtgärder för att minska parasittkapacitans inkluderar att öka avståndet mellan ledare där det är möjligt, använda skärm eller markplan, optimal routing och begränsning av korsningar, samt närhet till kritiska signaler. Användning av närliggande decoupling-kondensatorer och korrekt kabelhantering minskar effekterna och förbättrar prestanda i känsliga applikationer.