mittaustarkkuusresoluutiolla

Mittakaudella mittaustarkkuusresoluutiolla tarkoitetaan mittausjärjestelmän kykyä erottaa pienempiä muutoksia ja raportoida arvoja tietyllä tarkkuudella. Se yhdistää kaksi käsitettä: resoluution, eli pienimmän edustettavissa olevan askeleen, sekä mittaustarkkuuden, eli kuinka lähelle todellista arvoa mittaus pystyy. Käytännössä termi viittaa siihen, millä askelvälillä mittaustulos voidaan esittää ja kuinka pyöristys tai kvantisaatio vaikuttaa tulokseen.

Resoluutio määrittää sen pienimmän eron, jonka mittauslaitteen tuloksesta voidaan havaita. Toisaalta mittaustarkkuus kuvaa systemaattisten ja satunnaisten virheiden kokonaisuutta sekä kuinka lähellä todellista arvoa mittaus on. Yhdessä nämä tekijät määrittelevät mittauksen epävarmuuden ja luotettavuuden. Resoluutio voi vaikuttaa tuloksen tulkintaan: suurempi askeleen koko rajoittaa pienempien muutosten huomioimista, vaikka laite olisi muuten tarkka.

Käytännön esimerkki: 12-bittinen ADC, jonka täyskattavuus on 0–5 V, tuottaa askeleen Δ ≈ 5 V / 4096 ≈ 1,22 mV. Kvantisaatio-virhe on enintään noin ±0,61 mV. Jos vaaditaan epävarmuus pienemmäksi kuin ±1 mV, resoluution on oltava riittävän pieni. Yleinen ohje on, että resoluution tulisi olla merkittävästi pienempi kuin vaadittu tarkkuus, usein vähintään kymmenesosa siitä, jotta kvantisaatio ei dominoi tulosta. Mittaustarkkuusresoluutiota käytetään mittauslaitteiden suunnittelussa ja arvostelussa, jotta saavutetaan haluttu luotettavuus käytettävissä tilanteissa.