mittausmahdollisuuksia

Mittausmahdollisuuksia kuvaa mittausjärjestelmän, laitteen tai prosessin kyky tuottaa luotettavaa tietoa määritellyistä suureista. Ne voivat sisältää mittausalueen (minimi–maksimi), tarkkuuden ja sen epävarmuuden, resoluution, toistettavuuden sekä mittausnopeuden ja vasteajan. Käytännössä mittausmahdollisuudet määrittävät, millaisia arvoja ja millaisessa aikajaksoissa voidaan luotettavasti havaita.

Mittausmahdollisuuksiin vaikuttavat tekijät ovat esimerkiksi käytetyt sensorit ja mittausmenetelmät, ympäristöolosuhteet sekä mittausjärjestelmän kalibrointi ja huolto. Lisäksi mittausryhmän epävarmuus, virhelähteet ja tarvittava virhemallinnus ovat oleellinen osa mahdollisuuksien arviointia. Kansainväliset ja kansalliset standardit sekä SI-yksiköihin perustuva jäljitettävyys korostuvat erityisesti laadunvarmistuksessa ja viranomaisvaatimuksissa.

Mittausmahdollisuuksien hallinta tapahtuu suunnitteluvaiheessa laatimalla mittausplan, jossa määritellään mitattavat suureet, hyväksyttävä epävarmuus, kalibrointiväli sekä toleranssit. Parantaminen voi edellyttää suuremman tai tarkemman mittausalueen valitsemista, kalibrointien ja lämpötilasäätöjen parantamista, sensorisoinnin tai signaalinkäsittelyn optimoimista sekä tarvittaessa mittausjärjestelmän yhdistämistä useisiin mittausmenetelmiin.

Lyhyesti, mittausmahdollisuudet kuvaavat, mitä ja miten tarkkaa tietoa voidaan luotettavasti kerätä tietystä ilmiöstä ottaen huomioon rajoitukset, epävarmuudet ja vaaditut standardit.