kirkkauspisteitä

Kirkkauspisteitä (sing. kirkkauspiste) on termi, jota käytetään kuvaamaan paikallisesti kirkkaasti erottuvia pisteitä kuvan tai datan taustaa vasten. Ne ovat yleisiä useilla tieteenaloilla, kuten tähtitieteessä, mikroskopiassa, kaukokartoituksessa ja materiaalitutkimuksessa. Kirkkauspisteet voivat vastata todellisia lähteitä, kuten tähtiä tai fluoresoivia molekyylejä, mutta niiden esiintyminen voi johtua myös mittausvirheistä tai instrumentaalisista artefakteista.

Kirkkauspisteiden ominaisuuksia ovat kirkkaus, sijainti ja yleensä pienikokoisuus, pisteen kaltaisen alueen ulottuvuus sekä mahdollinen spektri. Ne havaitaan yleensä siten, että niiden kirkkaus ylittää ympäröivän taustan tai tietyn kynnysarvon. Kirkkauspisteet voivat olla pisteitä tai pienikokoisia laajentumia; niiden luokittelu ja mittaus voivat vaihdella käyttötarkoituksen mukaan.

Analyysissä käytetään sekä kynnysarvoihin perustuvia että automaattisia blob-tunnistusmenetelmiä. Yleisiä keinoja ovat taustamallinnus ja visuaalisen tarkastelun tukeminen, paikkakohtaiset flux-arviot sekä mahdollinen pisteiden profiilin tai PSF:n sovitus tarkemman luokittelun saamiseksi. Monia pisteitä varmistetaan käyttämällä useita kuvia eri aalloilla tai aikajaksoilta, jotta todelliset lähteet erottuvat kohinasoiduista artefakteista.

Käyttökohteita ovat muun muassa tähtitiede, jossa kirkkauspisteet voivat vastata tähtiä, supernovia tai satelliittihäiriöitä; mikroskopia, jossa fluoresoivat merkkiaineet muodostavat kirkkauspisteitä kuviin; sekä kaukokartoitus ja materiaalitutkimus, joissa ne voivat viitata virheisiin, lämpöviirgeihin tai kohteiden ominaispiirteisiin.

Haasteiksi muodostuvat instrumentaaliset artefactit, kuten kosmisen säteilyn aiheuttamat hitsaukset CCD-asteikoilla, kuvan saturaatio, taustan vaihtelu sekä kalibroinnin epävarmuudet. Oikea luokitus ja luotettava flux-mittaus vaativat usein monivaiheista tarkastelua ja taustamallien huolellista käsittelyä.