atommätningar
Atommätningar, eller atomär mätning av material, syftar till att analysera och mäta egenskaper hos material på atomär nivå. Denna typ av mätning är avgörande inom forskning, materialvetenskap och tillverkning för att förstå och optimera materialens struktur och funktion. Teknikerna som används inom atommätningar inkluderar bland annat röntgendiffraktion, elektronmikroskopi och spektroskopi, vilka möjliggör studier av kristallstruktur, ytegenskaper och kemiska sammansättningar.
Röntgendiffraktion är en av de mest använda metoderna för att bestämma atomära positioner och kristallstruktur i
Elektronmikroskopi, inklusive transmissionselektronmikroskopi (TEM) och rastroelektronmikroskopi (SEM), ger högupplöst bild av material på nanonivå. TEM kan
Spektroskopi, såsom röntgenfotoelektronspektroskopi (XPS) och röntgenabsorptionsspektroskopi (XAS), används för att analysera kemiska bindningar och oxidationstillstånd hos
Atommätningar är också centrala inom nanovetenskap och nanoteknologi, där kontroll över material på atomär nivå kan