Mittauskorkeutta

Mittauskorkeudella tarkoitetaan vertikaalista etäisyyttä mittauspisteen ja määritellyn vertikaalidatan, kuten referenssipinnan, geoidin tai ellipsoidisen keskipinnan, välillä. Käsite on keskeinen geodesiassa, rakennusmittauksessa ja kartoituksessa, jossa korkeuserot pyritään ilmaisemaan samalla vertikaalidatalla.

Yleisimmin käytettyjä muotoja ovat instrumentin korkeus ja kohteen korkeus. Instrumentin korkeus tarkoittaa mittauslinjan keskipisteen etäisyyttä maanpinnasta; sitä käytetään, kun tulokset siirretään mittauspisteestä toiseen. Kohteen korkeus puolestaan kuvaa rodin tai kohteesta saatu lukema, jolla määritetään havaintokohtaisen korkeuden lisäys maanpinnasta. Näitä korkeuslukuja käytetään korkeuserojen laskemiseen ja tulosten muuntamiseen ortometriseen (maanpinnan merenkorkeus) tai ellipsoidaaliseen korkeuteen.

Vertikaalidatalle on annettava yhteinen yhteys: mittaustulokset voidaan sovittaa yhteen haluttuun vertikaalidataan. Ortometrinen korkeus (maanpinnan merenkorkeus) ja ellipsoidaalinen korkeus (referenssielipsoid) mahdollistavat korkeustietojen yhteensovittamisen.

Menetelmät: instrumentin korkeus voidaan mitata suoraan maanpinnasta, rodin korkeus lukema täsmäyttää havaintokohtaisen korkeusarvon, tai GNSS:n antama ellipsoidaalinen korkeus voidaan muuntaa ortometriseksi käyttämällä geoidikorjauksia. Laser- ja optiset etäisyysmittauslaitteet voivat antaa suoran korkeushavainnon.

Virheiden ja epävarmuuksien lähteitä ovat lukemavirheet, lämpötilan ja ilmanpaineen vaikutukset, mittausasennon epävarmuus sekä veden pinnan vaihtelut. Mittauskorkeuden oikein määrittäminen on keskeinen osa luotettavaa korkeustiedon tuottamista.