transmisjonselektronmikroskop

Et transmisjonselektronmikroskop (TEM) er et elektronisk mikroskop som bruker en strøm av elektroner som passerer gjennom en ultratynn prøve for å danne et bilde. Når elektroner interfererer og blir sprøtt av prøven, kan detaljer på atomicsskala observeres. TEM har prinsippielt svært høy oppløsning og kan nå under en Ångström i moderne instrumenter ved bruk av korreksjon for aberrasjoner.

Et TEM består av en elektronkilde, kondensatorlins-er, et objektiv, projeksjonslinsen og avbildningssensorer. Elektronstrømmen sendes gjennom vakuum, og bildet dannes av de elektronene som passerer gjennom prøven og av de som blir spredt av prøven. Avbildning kan gjøres som lysfelt-type bilder (bright-field) eller mørkfeltbilder, og i tillegg kan man bruke diffraksjon for strukturell analyse. Instrumentet kan også suppleres med teknikker som SAED (Selected Area Electron Diffraction), EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy) og EDS (Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy) for krystalldannelse og kjemisk analyse.

Prøver må være ultratynne for å være gjennomsiktige for røntgen-/elektronstrålen. I biologi brukes ofte fastfrysing og tynning eller innstøping i vev og fortykning av støpt prøver med tungmetallfarging for kontrast. I material- og nanovitenskap brukes tynne efterer eller FIB-bearbeiding for å lage lameller eller tynne skiver.

TEM gir svært høy oppløsning og detaljrikdom ved materialstruktur, krystallografi og nanoskala morfologi, men har begrensninger knyttet til prøvestørrelse og stråledoser som kan skade sårbare prøver. Instrumentet krever høyvakuum og spesialisert drift, ofte i separate laboratorium eller senter.