sähköimpedanssianalyysillä
Sähköimpedanssianalyysi on laaja-alaisesti käytössä oleva spektriallystekniikka, joka mittaa materiaalien tai järjestelmien vastusta (impedanssia) eri taajuuksilla. Metodi perustuu kapasitanssin, induktiivisuuden ja konduktanssin taajuusriippuvuuden analysointiin, jolloin voidaan kartoittaa subtraktioja ja piirteitä, joita perinteisellä sähköresistanssin mittauksella ei havaita. Sähköimpedanssia ilmaistaan yleisesti kompleksiluvun Z = R + jX muodossa, jossa R on resistiivinen osa ja X paraspoissuva komponentti, joka koostuu kapasitanssin (Xc = 1/jωC) ja inductiivisuuden (XL = jωL) vaikutuksista.
Tekniikan syntymä juontaa juurensa 1950‑-kauden alussa hyödynnettynä elektroanalyyttisissä mittauksissa, mutta arkkitehtoninen määritelmä ja laaja sovellusalueet kehittyivät
Säätettävissä on laajoja taajuusalueita – meganapetaher TFRI versus nanohertitä misreflective measurements. Mitat järjestetään usein LCR‑tulokasemilla, spektroskopio mitissä,
Sähköimpedanssianalyysi on kehittynyt merkittävästi viime vuosikymmeninä, ja sen soveltamisalue laajenee jatkuvasti, kun kehittyvät sensori- ja softausratkaisut