röntgensäteilyanalyysissä
Röntgensäteilyanalyysi viittaa joukkoon spektroskopisia tekniikoita, joissa analysoidaan alkuaineiden ja yhdisteiden vuorovaikutusta röntgensäteilyn kanssa. Nämä menetelmät hyödyntävät röntgensäteiden ainutlaatuisia ominaisuuksia, kuten niiden kykyä tunkeutua materiaaleihin ja herättää atomien sisäisiä elektroneja. Kun röntgensäteet osuvat näyteeseen, ne voivat joko absorboitua tai sirota. Absorptioprosessi voi johtaa atomien elektronien virittymiseen korkeammille energiatasoille, ja kun nämä elektronit palaavat perustilaansa, ne emittoivat röntgensäteilyä, jonka energia on ominainen kyseiselle alkuaineelle. Tätä ilmiötä hyödynnetään esimerkiksi röntgenfluoresenssispektroskopiassa (XRF), jolla määritetään näytteen alkuainekoostumus.
Sironnan yhteydessä röntgensäteet voivat vuorovaikuttaa näytteen elektronien kanssa ja muuttaa suuntaansa. Röntgendiffraktio (XRD) on toinen keskeinen