diffraktiotason

Diffraktiotason on kristallin sisäinen taso, jonka kautta aaltoliike (kuten röntgensäteet, elektronit tai neutronit) voi heijastua ja aiheuttaa diffraktion. Jokainen diffraktiotaso vastaa joukkoa atomijakautuneita tasoja latticeissa ja määritellään Millerin indekseillä (hkl). Tason etäisyys d_hkl kuvaa kyseisen planeen sijaista tilan etenemän pituutta kristallin järjestelmässä.

Miller-indeksit kuvaavat planeen suuntaa kristallijärjestelmässä. Esimerkiksi kolmeulotteinen lattice voi sisältää lukuisia erilaista suuntaa vastaavia planeita, joista kukin muodostaa oman diffraktiotasonsa. Diffraktiotasojen välinen etäisyys d_hkl riippuu kristallijärjestelmästä ja parametreista; esimerkkinä kiteen kiderakenteesa jumaltil - voit löytää relations: 1/d_hkl^2 = (h^2/k^2 + ...) riippuen järjestelmästä.

Diffractionin perusta on Braggin laki: n λ = 2 d_hkl sin θ, jossa λ on muodonk cristaalinen aaltopituus, θ on kulma kreis "tason normaalin ja heijastuneen kulman välillä" ja n on kokonaisluku. Kun Braggin ehto täyttyy, diffraktiokohde syntyy ja havaitaan diffraktiopeaks, yleensä kahdeksi 2θ -arvoksi, jolla planeen 2θ vastaa diffraktiotason d_hkl.

Diffraktiotason käsite on keskeinen X-rahoituksessa (XRD), elektronie diffraktiotutkimuksessa ja neutronidiffractionissa. Diffraktiokohteiden analysointi mahdollistaa kideparametrien, faasien tunnistamisen ja rakenteen määrityksen sekä kristallin suuntautumisen tutkimisen. Planeiden hkl-indeksit auttavat lisäksi indeksöimään diffraktiopeitteet ja tulkitsemaan materiaalin rakenteellisia ominaisuuksia.