diffraktiokohde
Diffraktiokohde on diffraktiota hyödyntävän tutkimuksen keskeinen käsite. Se tarkoittaa kohdetta tai näytettä, jota vastaan incidenttiaaltoja kohdennetaan ja jonka rakenne aiheuttaa diffraktiopisteitä ja -kuvioita. Diffraktiokohteen ominaisuudet, kuten atomirakenne, kiteen koko ja laatut sekä pinta- ja tilavuusjärjestys, vaikuttavat syntyvän diffraktiokuvion muotoon ja intensiteetteihin. Käytännössä kohteita ovat esimerkiksi yksittäiskiteet, jauhemaiset näytteet sekä amorfiset aineet, joita tutkitaan X-säteillä, elektroneilla tai neutroneilla.
Huomioitavia ilmiöitä ovat muun muassa Braggin laki, jonka mukaan nλ = 2d sin θ kuvaa tilaa, jossa diffraktio
Diffraktiokoetta analysoidaan eri menetelmillä. X-ray diffraction (XRD) keskittyy kiinteisiin näytteisiin ja antaa tietoa kiderakenteesta, tilavuusparametreista ja