AFMmenetelmillä
AFMmenetelmillä viitataan atomivoimamikroskopian (AFM) tekniikoihin, joita käytetään pintojen topografian sekä monien muiden ominaisuuksien tutkimiseen nanoskaalalla. Periaate perustuu kapean cantileverin kärjen vuorovaikutukseen pinnan kanssa. Cantileverin taivutusta seurataan lasersäteen avulla ja fotodetektor muuntaa signaalin sähköiseksi, josta voidaan muodostaa korkeuskuva sekä mitata voimia ja vuorovaikutuksia.
AFM voidaan toteuttaa useissa tiloissa. Kontaktimodissa kärki on jatkuvasti kosketuksissa pintaan, jolloin vuorovaikutukset ovat suuria. Napautustilassa
Laitejärjestelmä koostuu cantileverista ja kärjestä, lasersäteen mittaustoiminnoista, fotodetektorista sekä tietokoneohjatusta skannerista, jolla voidaan ohjata x-, y-
Sovellukset kattavat materiaalitieteen, ohutkalvojen ja polymeerien karakteroinnin sekä biologian alueet kuten solujen, proteiinien ja biomolekyylien tutkimuksen.
AFM kehitettiin 1980-luvulla IBM:llä; eräät lähteet mainitsevat kehittäjiksi Gerd Binnig, Calvin F. Quate ja Christoph Gerber.