röntgendiffraatioon

Röntgendiffraatio, lyhennettynä XRD, on analyyttinen tekniikka, jota käytetään aineen kiteisen rakenteen tutkimiseen. Menetelmä perustuu röntgensäteiden diffraktiokuvioiden analysointiin, jotka syntyvät, kun röntgensäteet osuvat kiteiseen materiaaliin. Kun röntgensäteet tulevat vuorovaikutukseen materiaalin atomien kanssa, ne taipuvat ja diffrahoituvat eri suuntiin, muodostaen tunnusomaisen diffraktiokuvion.

Diffraktiokuvio on ainutlaatuinen kullekin kiteiselle aineelle ja se sisältää tietoa materiaalin kiderakenteesta, kuten hilavakiosta, atomien sijainnista ja kiteiden orientaatiosta. Analysoimalla diffraktiokuvioiden kulmia ja intensiteettejä voidaan tunnistaa materiaalin eri faasit ja mitata niiden suhteellisia määriä.

Röntgendiffraatiota käytetään laajalti materiaalitieteessä, geologiassa, kemiassa, lääketieteessä ja teollisuudessa. Sitä hyödynnetään esimerkiksi uusien materiaalien kehityksessä, mineraalien tunnistamisessa, lääkeaineiden laadunvalvonnassa ja puolijohdeteollisuudessa. Tekniikan avulla voidaan tutkia myös materiaalien faasimuutoksia lämpötilan tai paineen muutoksissa. XRD on ei-tuhoava analyysimenetelmä, mikä tarkoittaa, että näyte säilyy ehjänä mittauksen jälkeen. Menetelmä on suhteellisen nopea ja monipuolinen, mikä tekee siitä arvokkaan työkalun monilla tieteen ja teollisuuden aloilla.