kontrollgräns

Kontrollgräns är ett begrepp inom statistisk processkontroll (SPC) som används för att övervaka och bedöma stabiliteten i en tillverknings- eller arbetsprocess. På en kontrollkarta ligger en centrumlinje (CL), vanligtvis processmedelvärdet, mellan vilka övre och nedre kontrollgränserna (UCL och LCL) placeras. Om mätningar ligger inom dessa gränser och uppvisar förväntad variation betraktas processen som under kontroll; om mönster eller resultat utanför gränserna uppstår ses det som tecken på att något är fel och åtgärder kan behöva vidtas.

Beräkningar av kontrollgränser varierar med typ av data. För variabla data som antas vara ungefär normalt fördelade används ofta UCL = CL + 3 sigma och LCL = CL − 3 sigma, där sigma är den uppskattade processvariation som mellan varje mätning föreligger. För olika typer av diagram finns speciella formler: i ett p-diagram, som övervakar andelen defekter i ett urval, är UCL = p̄ + 3 sqrt(p̄(1−p̄)/n) och LCL = p̄ − 3 sqrt(p̄(1−p̄)/n). I ett c-diagram, som räknar antal defekter per enhet, blir UCL = μ + 3 sqrt(μ) och LCL = μ − 3 sqrt(μ).

Användningen av kontrollgränser syftar till att upptäcka särskilda orsaker till variation och att hålla processer stabila över tid. Kontrollgränserna skiljer sig från specifikationsgränserna, som representerar kundkrav och toleranser; kontrollgränserna är inriktade på processens egen variation och prestanda, medan specifikationer beskriver vad som krävs för produkten. Behovet av antaganden om distribution och stabilitet är viktigt för tolkningen och uppdateringen av gränserna.