kontaktprofilometriával

Kontaktprofilometriával olyan felületek topográfiáját mérik, ahol a felület érintkezik egy vékony tapintóheggyel. A stylus a felület egyenetlenségeit követi, és a hegynél létrejövő függőleges elmozdulást egy érzékelő transducer rögzíti. A mérés jellemzően vonalszerű, lineáris skán formájában történik, de több irányban végzett méréssel 3D felületek is létrehozhatók. A kapott adatokból profillal vagy profilparaméterekkel jellemezhető felületek alakulnak ki.

Az eszközök felépítése általában magában foglalja a stylust és a mérőfejet, a mozgóasztalt vagy fejrészt, valamint az érintkezési erő kontrollálására szolgáló mechanizmust. A tapintóhegy gyakran kúp- vagy piramis alakú. A mérés során meghatározott, kontrollált érintkezési erőt alkalmaznak, hogy elkerüljék a felület károsodását vagy a tipp kopását. A vonalskán során a vertikális jel a magasságkülönbségeket reprezentálja, amelyből a a felületi érdesség és a topográfia értékelhető.

Az eredmények leggyakoribb értelmezése a profilparaméterek alapján történik. Gyakori értékek: Ra (felületi érdesség aritmetikai átlaga), Rq (négyzetes átlag), Rz (maximális érdesség), Rt (teljes magasság). 3D profilok esetén arealis mutatók is kiszámíthatók ISO szabványokkal, például ISO 4287 a 2D és ISO 25178 a 3D felületek meghatározására.

Alkalmazási területek közé tartozik a megmunkált mechanikai alkatrészek, bevonatok minőségi ellenőrzése, tribológiai vizsgálatok és mikroszerkezetek felületi vizsgálata. Előnye a közvetlen felületi profil és a magas vertikális felbontás, míg hátrányai közé tartozik a felületbeépített érintkezés okozta karcolás, a tipp kopása és a mérési sebesség korlátozott volta.