diffraktionsbaserade

Diffraktionsbaserade beskriver metoder, instrument och system som utnyttjar diffraktion — fenomenet där vågor sprids och interfererar vid kantar eller periodiska strukturer — för att frambringa mätbar information. Begreppet används ofta som adjektiv i sammanhang där analys, avbildning eller styrning grundas på vågors våglängdsberoende spridning.

Principen bygger på att våglängd, materialstruktur och geometri bestämmer diffraktionsmönstrets vinkel och intensitet. Genom att registrera detta mönster kan man härleda egenskaper hos provet eller använda diffraktionen som optisk funktion (till exempel som spektralupplösare i ett gitter). Diffraktionsbaserade tekniker omfattar röntgendiffraktion för kristallstrukturer, elektron- och neutrondiffraktion, optiska gitter i spektrometrar samt fiber Bragg-gratings och holografiska element inom sensorer och telekommunikation.

Vanliga tillämpningar är materialanalys, fastställande av kristallstruktur, spektralanalys, strain- och temperatursensorer samt optisk komponentdesign. Fördelar är icke-kontaktmätning, hög rumslig eller spektral upplösning och möjligheten att analysera nanoskaliga strukturer. Begränsningar innefattar krav på koherent belysning eller välkollimerat ljus, känslighet för mekanisk inriktning och tolkningssvårigheter vid komplexa eller flerfaldigt spridande prover. Diffraktionsbaserade metoder förblir centrala inom fysik, materialvetenskap, kemi och ingenjörsvetenskap tack vare sin förmåga att koppla vågfenomen till strukturell information.