Röntgenfluorosentsanalüüs

Röntgenfluoresentsanalüüs ehk XRF on mittepurustav analüüsimeetod, mida kasutatakse materjali koostise määramiseks. See meetod põhineb materjali aatomite ja röntgenkiirte vahelisel interaktsioonil. Kui proovi kiiritatakse esmase röntgenikiirgusega, ergastatakse selle aatomid. Ergutatud aatomid vabastavad seejärel sekundaarse ehk sekundaarse röntgenkiirguse, mille energia on iseloomulik elemendile, millest aatom koosneb. Mõõtes sekundaarse röntgenkiirguse energiat ja intensiivsust, saab kindlaks teha proovis esinevad elemendid ja nende kontsentratsiooni.

XRF-analüüs on laialdaselt kasutusel paljudes valdkondades, sealhulgas geoloogias, metallurgias, keskkonnateaduses, arheoloogias ja tööstuslikus kvaliteedikontrollis. Seda kasutatakse näiteks mineraalide koostise uurimiseks, metallide puhtuse kontrollimiseks, saasteainete tuvastamiseks keskkonnaproovides ja iidsete esemete analüüsimiseks. Meetodi eelised on selle mittepurustav olemus, mis võimaldab proovi säilitada hilisemaks uurimiseks, samuti selle tundlikkus erinevate elementide suhtes ning võime analüüsida tahkeid, vedelaid ja pulbrilisi proove. XRF-analüüs ei vaja tavaliselt keerulist proovi ettevalmistust, mis muudab selle mugavaks ja kiireks analüüsimeetodiks.