Lagtykkelser

Lagtykkelser refererer til avstanden mellom grensene som deler et lagdelt medium i adskilte lag. Begrepet brukes i flere fagfelt, blant annet geologi, sedimentologi, materialteknikk og optikk, for å beskrive tykkelsen på individuelle lag mellom grensene i en stratigrafisk kolonne, i tynne filmer eller i lagdelte konstruksjoner.

I geologi og geovitenskap brukes lagtykkelser for å karakterisere fortidens miljøer og prosesser. Tykkelser måles ofte i meter i jord- og bergarter, og de kan påvirke tolkningen av sedimentasjonsforhold, erosjon og diagenese. I industrisammanheng er lagtykkelser viktige i materialer og komponenter som består av flere grenseflater, for eksempel flerlagsplater, keramiske eller sprø materialer og overflatebeskyttelser.

I optikk og elektronikk spiller lagtykkelser en avgjørende rolle for ytelsen. I tynne filmer bestemmes refleksjon, anti-refleksbelegg og optisk respons av tykkelsen, ofte ned til nanometer-nivå. I halvlederteknologi er lagtykkelser sentrale for elektriske og elektroniske egenskaper, og de styres gjennom produksjonsprosesser som kjemisk dampavsetning og fysisk vaporsavsetning.

Måling og estimering av lagtykkelser skjer gjennom direkte prøvedeling eller borehull i geologi, og ved bruk av teknikker som profilometri, ellipsometri, røntgenreflektivitet og AFM i materiale- og filmforskning. Tykkelsen påvirker mekanisk styrke, termisk isolasjon, akustiske egenskaper og optisk/elektrisk oppførsel, og små variasjoner i tykkelsen kan ha betydelige konsekvenser for ytelsen i et system. Lagtykkelse er derfor en sentral egenskap i studier av lagdelte strukturer.