Kontrollikarttoja

Kontrollikarttoja ovat tilastollisen laadunvalvonnan keskeisiä välineitä, joiden avulla seurataan prosessin tuloksia ajan kuluessa ja erotetaan sattumanvaraiset vaihtelut niistä, joihin voidaan vaikuttaa. Karttojen tarkoituksena on havaita poikkeamat, jotka viittaavat mahdollisiin syihin häiriöihin ja joiden ratkaisemisella voidaan estää laatupoikkeamien syntymistä.

Kontrollikarttoja on useita tyyppejä riippuen mittauskohteesta. X–kartta (X-bar ja R tai X-bar ja S) seuraa mittausten keskiarvoa ja vaihtelua. I– ja MR–kartat soveltuvat yksittäisiin mittauksiin ja niiden liikettä kuvaaviin vaihteluihin. P-, np-, c- ja u–kartat käsittelevät osuuksia tai laskentaa virheistä sekä havaintojen määrää, ja niitä käytetään epäjatkuvien ja palautettujen datajoukkojen seurannassa.

Jokaisella kartalla on keskilinja sekä ylä- ja alarajat (UCL ja LCL), jotka yleensä määritetään kolmen sigma -periaatteen mukaan. Data kerätään ja piirretään järjestyksessä, jolloin voidaan havaita signaalit kuten pisteen ulkopuolelle jääminen, peräkkäiset pisteet yhdenmukaisella puolella keskilinjaa ja pitkittyneet trendit.

Käyttöalueita ovat sekä teollisuus- että palveluprosessit, joissa toistettavuus ja laatu ovat tärkeitä. Käyttöönotto koostuu mittausjärjestelmän asettamisesta, kartan tyypin valinnasta, keskilinjan ja rajojen laskennasta sekä tulkinnasta. Historiaan kuuluvat Shewhartin kehittämät menetelmät 1920-luvulla, jotka muodostivat tilastollisen prosessinohjauksen perustan.