Aatomijõumikroskoopia

Aatomijõumikroskoopia, tuntud ka kui AFM (Atomic Force Microscopy), on kõrgresolutsiooniline mikroskoopiatehnika, mis võimaldab uurida pindade topograafiat ja muid omadusi aatomitasemel. See meetod ei kasuta elektronkiiri nagu skaneeriv elektronmikroskoopia, vaid põhineb füüsilise sondi liikumisel proovi pinnal.

AFM-is liigub terav sondi, mis on tavaliselt kinnitatud painduvale konsoolile, mööda uuritavat pinda. Sondi ja pinna vahelised interaktsioonid, nagu van der Waalsi jõud, elektrostaatilised jõud või kapillaarjõud, põhjustavad sondi üles-alla liikumist. Sondi liikumist jälgitakse laseriga, mis peegeldub konsooli tagaküljelt peeglile ja seejärel detektorile. Pinna topograafia salvestatakse, kui sondi kõrgust või konsooli paindumist vastavalt muudetakse, et hoida interaktsioonid konstantsena.

AFM-i üks peamisi eeliseid on selle võime töötada erinevates keskkondades, sealhulgas õhus, vedelikes ja vaakumis, samuti töötada mittejuhtivate materjalidega, mida elektronmikroskoobid ei suuda. See muudab selle sobivaks bioloogiliste proovide, polümeeride ja muude materjalide uurimiseks. Lisaks topograafia määramisele saab AFM-i kasutada ka mitmete muude omaduste mõõtmiseks, nagu pinna jäikus, magnetiline või elektriline potentsiaal ja temperatuur. AFM annab kolmemõõtmelise kujutise uuritavast objektist, mis on selle mitmekülgse uurimisvahendina väga väärtuslik.