skannauspintatutkimusmenetelmät
Skannauspintatutkimusmenetelmät, tai skannaava läpäisyelektronimikroskopia (STEM), ovat joukko edistyneitä tekniikoita, joilla tutkitaan materiaalien mikroskooppista ja atomitason rakennetta. Niiden perusperiaate on ohjata kohdennettu elektronisuihku näytteen läpi ja havaita vuorovaikutuksessa syntyvät signaalit.
Yksi yleisimmistä STEM-menetelmistä on läpäisyelektronimikroskopia (TEM). TEM:ssä elektronisuihku kulkee erittäin ohuen näytteen läpi. Näytteen läpi kulkeneet
Toinen keskeinen STEM-tekniikka on skannaava elektronimikroskopia (SEM). SEM:ssä elektronisuihku skannaa näytteen pintaa. Vuorovaikutuksessa syntyvät signaalit, kuten
Näiden perusmenetelmien lisäksi on olemassa useita erikoistuneempia STEM-tekniikoita, jotka tarjoavat syvempää tietoa materiaalien ominaisuuksista. Esimerkiksi energiahäviöspektroskopia