profilomeetrid

Profilomeetrid on seadmed, mille eesmärk on mõõta ja kujutada pindade profiile ehk pinna topograafiat. Need võimaldavad kvantitatiivselt kirjeldada pindade kõrguste ulatust, lamellumist ja vormi ning esitada kolmemõõtmelisi kõrgusandmeid pinnast.

Mõõtmisprint: Profilomeetrid jagunevad kontakti- ja mitte-kontakti tüüpideks. Kontaktsed profilomeetrid kasutavad nõela või teravdatud mõõtjat, mis liigub üle pinna ja registreerib kõrgusmuutusi. Mitte-kontaktsed meetodid kasutavad valgust (näit. interferomeetria, konfokatsioon või fokuseerimisvariatsioon), et rekonstrueerida kõrgus üle pinna ilma füüsilise kontaktita.

Väljund ja mõisted: Profiilid võivad olla joonprofiilid või arealsetena esile toodud pindade kaardid. Põhinäitajateks on lineaarne tsingitud kõneks Ra ja Rz ning arealsete parameetrite puhul Sa, Sq ja Sz. Lisaks kasutatakse erinevaid filtrimis- ja ruudustikupõhiseid analüüsi, mis aitavad eristada tööstuslikku mustrit ja lõhestunud pindu.

Rakendused: Profilomeetreid kasutatakse laialdaselt tootmises ja kvaliteedikontrollis (auto-, elektroonika- ja mehaanika tööstus), materjaliteaduses, mikro- ja nanotehnoloogias, meditsiinis ning teaduslikes uuringutes pindade kvaliteedi, töökindluse ja omaduste hindamiseks.

Kalibreerimine ja standardid: Profilomeetrid peavad olema kalibreeritud ja metrologiliselt jälgitavad. Olulised standardid hõlmavad ISO 4287 ja ISO 4288 (põhilised profiilide mõõtmised), ISO 25178 (arealse topograafia parameetrid) ning seotud juhised. Kalibreerimine tagab tulemuste võrreldavuse ja usaldusväärsuse.