overflateprofil

Overflateprofil er en ett-dimensjonal representasjon av høydevariasjoner langs en linje på en overflate. Den beskriver hvordan høyden z endres med den horisontale avstanden x langs målebanen, og brukes i overflatemetrologi (profilometri) til å kartlegge ruhet, tekstur og form. Profilen fungerer som grunnlag for videre analyse av mekaniske egenskaper som friksjon og slitasje, samt for kvalitetskontroll i produksjon.

Profilmåling skjer med profileringsinstrumenter av forskjellig type. De mest brukte er kontaktprofilometer (stylus) som fører en tynn nål over overflaten og registrerer vertikale avvik. Ikke-kontaktmetoder inkluderer optisk profilometri basert på konfokal teknologi eller hvittlys interferometri, samt andre avanserte teknikker som AFM for nanoskopiske anvendelser. Valg av metode avhenger av ønsket måleområde, oppløsning og overflatens egenskaper.

Fra en innsamlet profil kan man utlede ulike profilparametere. De mest brukte i industrien er Ra (arithmetisk gjennomsnittlig avvik), Rq (root-mean-square avvik) og Rz (gjennomsnittlig høydeforskjell mellom topp og bunn over evalueringlengder). Disse parametrene gir en numerisk beskrivelse av ruheten til en flate. Profilen kan også analyseres i forhold til andre karakteristikker som form og tekstur, og brukes i toleransevurderinger og kvalitetskontroll.

Overflateprofil skiller seg fra arealprofil, som beskriver 2D/3D overflateegenskaper. Arealsprofilering (for eksempel Sa, Sq) gir et mer helhetlig bilde av en flates ruhet og tekstur over et område. Standarder som ISO 4287 og ISO 25178 støtter henholdsvis linære (profil) og areale målemetoder.