emissiooninurk

Emissiooninurk on termi, jota käytetään optiikassa ja radiometrikassa kuvaamaan säteilyn emittoinnin suunnan suhdetta referenssiakseliin. Tavallisesti referenssiakselina käytetään esimerkiksi pinnan normaalia tai lähteen optista akselia. Emissiooninurk muodostaa yhdessä emission patternin eli suunnittelun jakautumisen valon tai muun säteilyn voimakkuudesta eri suunnissa.

Emission pattern kuvaa, miten säteilyn intensiteetti I riippuu suunnasta. Eri lähteillä on erilainen suunnanjakautuma. Isotrooppinen emitter säteilee tasaisesti kaikissa suunnissa, kun taas anisotrooppiset lähteet antavat vahvempaa säteilyä tietyissä suunnissa. Yleisessä tapauksessa emission pattern voi olla axisymmetrinen ja riippua vain polarisaaimuthista θ, jolloin I = I(θ).

Usein käytetty esimerkki on lambertinen emittoiva pinta, jossa intensiteetti seuraa cos θ -lakiin. Tämä tarkoittaa, että säteily on suurinta suoraan pinnan normaalin suuntaan ja pienenee loppuun asti, kun katselukulma lähestyy horisonttia. Luvut määrätään radiometrisesti seuraavasti: pienessä dΩ-ympyrässä emitted power dP = I(θ, φ) dΩ, ja dΩ = sin θ dθ dφ.

Mittaus ja mittayksiköt: Emissiooninurkkien tutkimuksessa käytetään usein goniometreja tai valokaappauksia, joilla mitataan intensiteettilähteen suunnasta riippuvaa voimakkuutta. Yleisimmät yksiköt ovat radiaanit ja asteet kulmille sekä watit per steradiant (W/sr) intensiteetille ja watti per neliömetri (W/m²) kokonaisemittoituneelle säteilylle.

Sovellukset kattavat valaistus- ja LED-suunnittelun, optisten komponenttien karakterisoinnin sekä astrophysikaaliset ja radiometriiset tutkimukset. Emissiooninurkka vaikuttaa siihen, miten kirkkaus ja projektio jakautuvat visuaalisesti ja mitattavasti ympäristössä.