Mikrometripaksuisia

Mikrometripaksuisia on adjektiivi, jota käytetään kuvaamaan kappaleita tai kerroksia, joiden paksuus on mikrometreissä. Termi esiintyy erityisesti materiaalitieteen, valmistusteknologian ja laadunvarmistuksen yhteydessä, kun puhutaan ohuista kalvoista, pinnoitteista tai muista kerroksista, joiden paksuus kuuluu mikrometrien mittakaavaan. Tyypillisesti mikrometripaksuiset kerrokset ovat noin 1–1000 µm paksuja, mutta tarkka paksuus riippuu sovelluksesta ja valmistusmenetelmästä.

Paksuutta mitataan ja kontrolloidaan useilla menetelmillä. Yleisimmät lähestymistavat ovat pinnan profilometria, jossa kerroksen paksuus arvioidaan pinnan korkeuserojen perusteella; sekä erilaiset optiset menetelmät kuten ellipsometria (spectroscopic ellipsometry) ja interferometria. AFM:n eli atomivoimamittauksen avulla voidaan määrittää paikallinen paksuus pienillä alueilla. Gravimetriset menetelmät, joissa massan muutosta verrataan tilavuuteen, voivat olla tarkoituksenmukaisia joidenkin materiaalien kohdalla.

Käyttökohteita ovat esimerkiksi suojapinnoitteet, optiset kerrokset, puolijohde- ja elektroniikkaprosessien ohutkalvot sekä lääketieteelliset ja pakkauskalvot, joissa paksuudella on vaikutusta kestävyyteen, läpinäkyvyyteen, läpäisevyyteen tai sähköisiin ominaisuuksiin. Paksuuden hallinta on kriittinen osa valmistusprosessia, ja toleranssit sekä paksuuden ominaisuudet voivat vaihdella suuresti riippuen materiaalista ja sovelluksesta.

Liittyviä käsitteitä ovat ohuet kalvo -termistö, mikrometrinen paksuus sekä mittausmenetelmät kuten profilometria ja ellipsometria. Mikrometripaksuisia kerroksia käsittelevät sekä teollisuusstandardit että tieteelliset tutkimukset.