Karkeusmittaukset

Karkeusmittaukset ovat pinnan karkeuden mittaamista pienillä amplitudimuutoksilla ja lyhyillä aallonpituuksilla ilmenevien epätasaisuuksien määritykseksi. Tarkoituksena on antaa numeerinen kuva pinnan laadusta sekä sen toiminnallisista vaikutuksista, kuten kitkasta, kulumisesta ja tiivistymisestä.

Mittausmenetelmät voidaan jakaa kosketusprofilometriaan ja ei-kosketuksellisiin tekniikoihin. Kosketusprofilometria käyttää timanttista kärkeä, joka seuraa pintaa ja tuottaa profiin liittyviä arvoja. Yleisimmät karkeusarvot ovat Ra (karkeuden arithmetinen keskimääräinen poikkeama), Rq (RMS-roughness) ja Rz (korkeuserojen keskiarvo). Ei-kosketukselliset menetelmät, kuten valon interferometria (white-light interferometry), konfokselaserprofilometria ja fokusoiva profilometria, antavat kolmiulotteisen kuvan pinnasta ja soveltuvat karkeusarvioihin ilman kosketusta.

Arealisiin mittauksiin siirryttäessä käytetään 3D-parametreja kuten Sa, Sq ja Sz, jotka määritellään standardien mukaisesti (esim. ISO 25178). Mittausolosuhteet, mittauspituus, cutoff-suodatus ja kalibrointi ovat tärkeitä, jotta tulokset ovat vertailukelpoisia ja jäljitettävissä.

Karkeusmittauksia hyödynnetään teollisuudessa laajasti laadunvarmistuksessa, prosessien seurannassa ja tuotteiden toiminnallisuuden arvioinnissa. Eri valmistusmenetelmät, kuten hiominen, sorvaus ja lastutus, tuottavat erilaisia karkeusarvoja, joita käytetään prosessien optimointiin ja laatutavoitteiden saavuttamiseen.