röntgendifraktsiooniga

Röntgendifraktsiooniga, tuntud ka kui röntgendifraktsioonanalüüs (XRD), on mitmekülgne mittemagnetostriktiivne tehnika, mida kasutatakse materjalide struktuuri uurimiseks. See meetod põhineb röntgenikiirte difraktsioonil kristallilistest materjalidest, kus aatomite perioodiline paigutus põhjustab kiirte hajumist kindlates suundades.

Protsessi käigus saadetakse röntgenikiired proovi poole ja registreeritakse nende hajumisnurk ja intensiivsus. See hajumismuster on ainulaadne iga materjali kristalli struktuuri kohta, nagu sõrmejälg. Analüüsides seda difraktsioonimustrit, saab teadlastel tuvastada erinevaid kristalseid faase, määrata kristalli struktuuri parameetreid, nagu võre parameetrid, ja hinnata materjali orientatsiooni ja kristalli kvaliteeti.

Röntgendifraktsiooni kasutatakse laialdaselt paljudes teadus- ja tööstusvaldkondades. See on peamine vahend materjaliteaduses uute materjalide avastamiseks ja nende omaduste mõistmiseks. Farmaatsiatööstuses kasutatakse seda ravimite kristallilise kuju tuvastamiseks, mis mõjutab nende lahustuvust ja biosaadavust. Geoloogias aitab see mineraale tuvastada ja nende koostist analüüsida. Lisaks kasutatakse seda materjalitehnoloogias kvaliteedikontrolliks ja tootmisprotsesside optimeerimiseks.