pinnankuvasta

Pinnankuva on kohteen pinnan topografiaa tai pintarakennetta esittävä kuva tai kartta, joka tallentaa pinnan korkeuserot suhteessa viitepintaan. Pinnankuvasta voidaan muodostaa kaksidimensionaalinen korkeuskuva (height map) sekä kolmiulotteinen pintamalli, mikä mahdollistaa pintarakenteiden, karheuden ja mikrorakenteiden analyysin sekä näytteiden välisen vertailun.

Pinnankuvan muodostamiseen käytetään sekä kosketusmittauksia että kosketuksettomia tekniikoita. Kosketuksettomia menetelmiä ovat optinen profilometria ja valko-valo interferometria (WLI), sekä konfokaalimikroskopia, jotka tuottavat korkeusdataa ilman näytteen mekaanista koskettamista. Erittäin suurella tarkkuudella pintojen topografiaa kuvaavat atomin voiman mikroskopia (AFM) sekä skannauselektronimikroskopia (SEM), jonka avulla saadaan sekä korkeustiedot että visuaalisia kuvia. Laserskannausprofilometria on toinen yleinen tapa kartoittaa suuria pinta-aloja nopeasti.

Data esitetään usein korkeus- ja tilastokuvioina, ja pinnan ominaisuudet mitataan karheuden tilastollisilla parametreilla, kuten Ra, Rq ja Rz 2D-kartoituksissa sekä Sa, Sq ja Sz 3D-pinnat. Tuloksia käytetään laadunvalvontaan, häiriöanalyysiin sekä materiaalien kehitykseen, kuten kulumisen ja korroosion tutkimukseen sekä biologisten pintojen karakterisointiin.

Pinnankuvan tulkinta riippuu mittausmenetelmästä ja näytteen ominaisuuksista; eri tekniikat painottavat eri skaaloja ja resoluutiota, joten usein analyysissa käytetään useita menetelmiä.

---