mittausvirhelähteiksi

Mittaustuloksen epätarkkuus voi johtua useista eri virhelähteistä. Näitä virhelähteitä pyritään tunnistamaan ja minimoimaan mittausprosessin suunnittelussa ja toteutuksessa. Virheet voidaan yleensä jakaa kahteen pääluokkaan: systemaattisiin virheisiin ja satunnaisvirheisiin.

Systemaattiset virheet ovat virheitä, jotka vaikuttavat mittaustulokseen johdonmukaisesti samaan suuntaan tai samalla suuruudella jokaisessa mittauksessa. Ne voivat johtua esimerkiksi välineen kalibrointivirheestä, jossa mittalaite antaa jatkuvasti liian suuren tai liian pienen lukeman. Myös ympäristöolosuhteiden, kuten lämpötilan tai paineen, hallitsemattomat vaihtelut voivat aiheuttaa systemaattisia virheitä, jos ne vaikuttavat mittausvälineen tai mitattavan kohteen ominaisuuksiin. Lisäksi mittausmenetelmän puutteet tai käyttäjän harjoittama virheellinen mittaustapa voivat johtaa systemaattisiin virheisiin.

Satunnaisvirheet sen sijaan vaihtelevat mittauksesta toiseen sattumanvaraisesti, eikä niiden suuntaa tai suuruutta voida ennustaa etukäteen. Ne johtuvat usein havainnoijan aistien rajallisuudesta tai mittausvälineiden rajallisesta tarkkuudesta. Esimerkiksi mittalukeman arvioiminen asteikolta voi tuottaa satunnaisia virheitä, samoin kuin pienten, ennakoimattomien häiriöiden, kuten tärinän, vaikutus mittausprosessiin. Satunnaisvirheitä voidaan tyypillisesti vähentää tekemällä useita mittauksia ja laskemalla niiden keskiarvo. Virhelähteiden tunnistaminen ja ymmärtäminen on olennaista luotettavien mittaustulosten saavuttamiseksi.