veamäärade

Veamäärad ehk mõõtmise ebakindlused kirjeldavad, kui täpne on mõõtmistulemus ja kui suure tõenäosusega tegelik väärtus võib mõõdetud väärtusest erineda. Tavaliselt väljendatakse neid kujul x ± u, kus x on mõõdetud väärtus ja u on ebakindluse suurus. Kui kasutatakse laiendatud ebakindlust U = k·u, antakse tulemusele katvustase, näiteks 95% (k=2).

Veamäärad tekivad mitmel erineval põhjusel: juhuslikud vead (statistiline varieerumine), süsteemsed vead (kalibreerimisviga, mudeli puudujäägid), keskkonnamõjud, instrumentide piirangud ja inimfaktorid. Ebakindluse suuruse hindamiseks koostatakse ebakindluse eelarve, mis koondab erinevad panused ja ühendab need sobival viisil.

Metrologias ja mõõtmise standardites järgitakse sageli GUM-i juhiseid (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement). Ebakindluse arvutamisel eristatakse Type A allikaid (statistiline analüüs mitmuse mõõtmise põhjal) ja Type B allikaid (informatsioon mittespetsiifilistest allikatest, nagu kalibreerimisandmed või varasemad kogemused). Nende panused kombineeritakse, et saada kogunenud ebakindlus, mida sageli esitatakse koos mõõtmise tulemusega või koos laiendatud ebakindluse väärtusega.

Veamäärad tuleb esitada mõõtmise kontekstis ja jälgitavusega, sealhulgas kalibreerimise ja standardite järgimisega. Need ei garanteeri, et tegelik viga jääb piiride sisse, vaid annavad statistilise kirjelduse ulatuse ja usaldusväärsuse.