aallonpituusulotteessa

Aallonpituusulotteessa on optiikan ja spektroskopian käytössä esiintyvä termi, joka kuvaa tilannetta, jossa valo rajoitetaan tai suodatetaan slitin kaltaisella rakenteella siten, että vain tiettyyn aallonpituusalueeseen kuuluvat komponentit pääsevät mittaustestaukseen. Termiä käytetään erityisesti yhdistelmissä, joissa dispersio-elementti (kuten rifi-ilmaisimet, sinusoidalinen interferometri, sekä hajota/grating) erottaa aallonpituudet tilan polulle, mutta slitti määrittelee, mitkä osat erotellusta spektristä saavuttavat vastaanottimen.

Fysikaalinen perusta perustuu löyssään diffraction- ja instrumenttifunktioon. Slitin kautta ohjautuva valo muodostaa valokuvan, jonka leveys ja muoto määrittävät, kuinka tarkasti spektri voidaan erottaa. Aallonpituusulotteessa mittaus on näet tulos sekä lähteen spektristä että instrumentin toiminnasta: slitin toiminta toimii eräänlaisena pyyhkäisynä, joka kattaa tietyt aallonpituudet, kun taas dispersio jakaa nämä aallonpidot tilanpalleissa. Yhteisvaikutus määrittelee sekä resoluution että läpäisytilavuuden.

Käytännössä aallonpituusulotteessa -tilaa käyttävät esimerkiksi astronomiset ja laboratoriospektrometrit sekä romakas Raman- ja fluoresenssimittaukset, joissa tarvitaan sekä riittävän tarkkaa että riittävän suurta signaalin läpäisevyyttä. Slitin koon säätäminen tarjoaa keinon hallita mittauskohteen spektriä sekä tuloksena olevaa instrumenttitoimintaa.

Näin ollen aallonpituusulotteessa kuvaa tilannetta, jossa spektrinen informaatio rajaantuu fyysisen slitin kautta ja jonka ominaisuudet vaikuttavat mittaustarkkuuteen sekä läpäisyn tehokkuuteen. Katso myös diffraction, spectrometer, instrument function, spectral resolution.