Laitteistotestijärjestelmä

Laitteistotestijärjestelmä, tunnetaan myös nimellä Hardware Testing System (HTS), on kattava kokonaisuus laitteistoja ja ohjelmistoja, joka on suunniteltu testaamaan ja varmistamaan erilaisten elektronisten laitteiden ja komponenttien toimivuutta ja suorituskykyä. Tällaisia järjestelmiä käytetään laajasti elektroniikkateollisuudessa tuotekehityksen, laadunvalvonnan ja valmistuksen aikana.

Laitteistotestijärjestelmän ydinominaisuuksiin kuuluu kyky syöttää tarkasti määriteltyjä signaaleja testattavaan laitteeseen (Device Under Test, DUT) ja mitata sen vastetta. Tämä voi sisältää esimerkiksi jännitteen, virran, taajuuden ja digitaalisten signaalien syöttämistä sekä vastausten, kuten signaalitasojen, ajoitusten ja virheiden, mittaamista. Järjestelmät ovat usein modulaarisia, jolloin niihin voidaan liittää erilaisia mittaus- ja generointimoduuleita tarpeen mukaan.

Ohjelmistopuoli on olennainen osa HTS:ää. Se mahdollistaa testiprotokollien määrittelyn, testien automatisoinnin ja tulosten analysoinnin. Ohjelmistolla voidaan luoda monimutkaisia testisekvenssejä, kerätä suuria määriä mittausdataa ja vertailla sitä hyväksyttäviin standardeihin. Tämä nopeuttaa merkittävästi testausprosessia ja parantaa sen toistettavuutta.

Laitteistotestijärjestelmien käyttökohteita ovat esimerkiksi integroitujen piirien (IC) testaus, piirilevyjen (PCB) toimintatestaus, elektroniikkakomponenttien suorituskyvyn varmistaminen ja valmiiden elektroniikkalaitteiden lopputestaus. Tehokas HTS on kriittinen tekijä korkealaatuisten ja luotettavien elektroniikkatuotteiden tuottamisessa.