Tektuurmetingen

Tektuurmetingen verwijst naar het meten en analyseren van textuur op oppervlakken of materialen, met aandacht voor ruwe- en patroonkenmerken, korrelgrootte, oriëntatie en tactiele eigenschappen. In de praktijk wordt vaker gesproken van textuurmetingen; tektuurmetingen kan als variatie voorkomen en wordt soms gebruikt als synoniem. De discipline is toepasbaar in meerdere sectoren, zoals materialenwetenschap, productie, textieltechnologie, bouw en architectuur.

Metingen worden uitgevoerd met zowel contact- als niet-contactmethoden. Veelgebruikte instrumenten zijn profilometers (een stylus die hoogteverschillen langs een lijn registreert) en optische systemen zoals confocale laserprofilometrie, witlichtprofilometrie en 3D-imaging. Data kan 2D of 3D worden vastgelegd, met aandacht voor hoogtevariaties, structuurpatronen en anisotropie.

Belangrijke meetpunten zijn ruweheidsparameters en textuurparameters. Typische 2D-parameters zijn Ra (gemiddelde oppervlakte-ruwheid), Rz en Rt, terwijl 3D-parameters volgens ISO 25178 onder andere Sa, Sq, Sp, Sv, Str en Sal omvatten. Daarnaast kan men naar textuuroriëntatie, piek- en dalprofielen, en ruimtelijke frequentie-kenmerken kijken. In geavanceerde toepassingen wordt ook rekening gehouden met filtering, afstand- en schaalafhankelijkheid en tip-convolutie bij stylusmetingen.

Toepassingen en workflow: tekstuurmetingen ondersteunen kwaliteitscontrole, productontwerp en materiaalonderzoek. Een meetplan omvat kalibratie met referentiestandaarden, vaste meetomstandigheden, milieucontrole en passende data-analyse. Rapportage beschrijft meetcondities, gebruikte parameters en interpretatie voor ontwerp of fabricage.

Zie ook: textuuranalyse, oppervlaktefuncties, profilometrie, areale oppervlaktestructuur. Standards zoals ISO 4287/4288 en ISO 25178 bieden definities en rekenmethodes voor textuurmetingen.